武汉中地大地质技术研究院有限公司
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岩石薄片鉴定
| 普通薄片 | 用于岩石矿物鉴定，包括矿物成分、含量、结构构造、岩性定名。 | 用透射偏光显微镜进行观察 |
| 普通光片 | 用于金属矿物鉴定，包括矿物成分、含量、结构构造、矿石工艺。 | 用反射偏光显微镜进行观察 |
| 砂薄片 | 用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等，鉴定透明矿物成分，含量等。 | 用透射偏光显微镜进行观察 |
| 砂光片 | 用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等，鉴定金属矿物成分，含量，统计解离度等。 | 用反射偏光显微镜进行观察 |
| 光薄片 | 用于观察金属矿物和透明矿物的成分、含量等，以及嵌布特征及相互关系。 | 用透反两用光源 |
| 探针片 | 观察金属矿物和透明矿物的成分，用于探针测试分析。 | 用透射或反射光 |
| 普通包体片 | 观察透明矿物中气液包裹体的类型，进行包裹体盐度、温度的测定。 | 用透射偏光显微镜进行观察 |
| 红外包体片 | 观察不透明矿物中包裹体的类型，进行 | 用红外显微镜进行观察 |
