欢迎访问武汉中地大地质技术研究院官网,为您提供岩矿鉴定地质勘查工程勘察新材料研发矿晶奇石等地质技术服务,欢迎咨询!

返回列表页

岩石薄片鉴定

岩石薄片鉴定

普通薄片用于岩石矿物鉴定,包括矿物成分、含量、结构构造、岩性定名。用透射偏光显微镜进行观察
普通光片用于金属矿物鉴定,包括矿物成分、含量、结构构造、矿石工艺。用反射偏光显微镜进行观察
砂薄片用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等,鉴定透明矿物成分,含量等。用透射偏光显微镜进行观察
砂光片用于松散砂样、选矿精矿-尾矿等,鉴定金属矿物成分,含量,统计解离度等。用反射偏光显微镜进行观察
光薄片用于观察金属矿物和透明矿物的成分、含量等,以及嵌布特征及相互关系。用透反两用光源
探针片观察金属矿物和透明矿物的成分,用于探针测试分析。用透射或反射光
普通包体片观察透明矿物中气液包裹体的类型,进行包裹体盐度、温度的测定。用透射偏光显微镜进行观察
红外包体片观察不透明矿物中包裹体的类型,进行用红外显微镜进行观察


关于我们

武汉中地大地质技术研究院

武汉中地大地质技术研究院有限公司成立于2019年,注册资金500万元,位于美丽的武汉东湖高新区...

在线咨询在线咨询
咨询热线 027-59223306

工程案例

联系我们

QQ:88888888

电话:027-59223306

手机:13554048899

地址:武汉东湖新技术开发区佛祖岭一路19号武汉中地大科技园一期2栋7层02室(自贸区武汉片区)

在线咨询在线咨询


返回顶部